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> 無損檢測(cè)技術(shù)
本發(fā)明提供一種綜合NMR和CT掃描測(cè)量油氣最小混相壓力的裝置與方法,同時(shí)采用核磁共振成像儀和CT掃描儀測(cè)量不同溫度下的油氣最小混相壓力,實(shí)現(xiàn)油氣互相溶解物質(zhì)傳遞過程的可視化,揭示油氣相平衡規(guī)律,并綜合考慮兩者的測(cè)量結(jié)果,使得實(shí)驗(yàn)精度更高;本發(fā)明測(cè)量方法可直觀、無損傷的測(cè)定油氣最小混相壓力,具有可操作性、可重復(fù)性,可以準(zhǔn)確快捷測(cè)量油氣的最小混相壓力。
本實(shí)用新型涉及一種高速飛行彈丸的質(zhì)量測(cè)量裝置,包括彈丸注入器、微波腔、計(jì)算機(jī)采集,及外部電子元件;微波腔上設(shè)有彈丸進(jìn)口和彈丸出口,彈丸注入器與彈丸進(jìn)口連接;外部電子元件包括依次連接的微波放大器、第一功率分配器、IQ鑒相器、視頻放大器;依次連接的本地震蕩源和第二功率分配器;微波腔分別與微波放大器的輸入端和第一功率分配器的輸出端連接;第一功率分配器和第二功率分配器的輸出端均和IQ鑒相器連接;視頻放大器與計(jì)算機(jī)采集連接。微波腔位于真空室內(nèi)。本實(shí)用新型采用采用無損測(cè)量法測(cè)量高速飛行彈丸的質(zhì)量,從而準(zhǔn)確測(cè)量彈丸原子數(shù)目,為彈丸注入的相關(guān)實(shí)驗(yàn)提供重要參數(shù)。
本發(fā)明公開了一種列車配電柜溫度監(jiān)測(cè)系統(tǒng),該列車配電柜溫度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)包括安裝在列車車廂上的配電柜,所述配電柜上安裝有溫度圖像采集模塊,所述溫度圖像采集模塊連接有溫度圖像處理模塊,所述溫度圖像處理模塊連接有溫度圖像存儲(chǔ)模塊,所述溫度圖像存儲(chǔ)模塊設(shè)置有讀卡模塊,所述溫度圖像處理模塊通過以太網(wǎng)連接有上位監(jiān)控主機(jī),所述上位監(jiān)控主機(jī)連接有報(bào)警模塊。本發(fā)明利用紅外熱成像技術(shù)對(duì)列車車廂內(nèi)的配電柜進(jìn)行溫度監(jiān)測(cè),把配電柜內(nèi)電氣元器件輻射紅外線的強(qiáng)弱轉(zhuǎn)化為物體溫度分布圖,能夠直觀呈現(xiàn)被測(cè)物體的溫度分布情況,且該監(jiān)測(cè)系統(tǒng)具有非接觸、無損、測(cè)溫范圍廣的特點(diǎn)。
本實(shí)用新型公開了一種二端口微帶器件測(cè)試裝置,其包括X軸位移平臺(tái)、射頻連接器載臺(tái)A、射頻連接器載臺(tái)B、Z軸位移平臺(tái)A、Z軸位移平臺(tái)B,X軸位移平臺(tái)、承托板載臺(tái)A和承托板載臺(tái)B、承托板、滾珠彈簧螺絲和待測(cè)件載臺(tái);其中,所述射頻連接器載臺(tái)A和射頻連接器載臺(tái)B能夠在所述X軸位移平臺(tái)沿X方向移動(dòng);滾珠彈簧螺絲設(shè)置于所述承托板載臺(tái)A和承托板載臺(tái)B的腔體內(nèi)且位于所述承托板下方;待測(cè)件載臺(tái)位于所述射頻連接器載臺(tái)A和射頻連接器載臺(tái)B之間的承托板上。通過本實(shí)用新型,可快速高效完成器件測(cè)試,且使用壓接的方法完成微帶線的連接,不需要焊接,無損測(cè)試;且適用于各種微帶線器件,不同長度、不同寬度和不同介質(zhì)厚度均可使用。
本發(fā)明公開了一種材料高溫彈性常數(shù)的快速測(cè)量方法:通過超聲回波的聲時(shí)特性,分別獲取被測(cè)試件內(nèi)超聲波縱和橫波傳播速度與溫度的關(guān)系式,由介質(zhì)溫度?超聲傳播速度?材料彈性常數(shù)三者之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系,可無損、快速地測(cè)量材料高溫條件下的彈性常數(shù),具有簡單方便、周期短、成本低、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
本實(shí)用新型涉及微波器件測(cè)試工具技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及微波器件測(cè)試用輔助保護(hù)裝置。包括固定底板、下夾持座和上夾持機(jī)構(gòu),所述下夾持座一體式設(shè)置于固定底板頂部,在下夾持座的頂部設(shè)有第一器件凹槽和緊固盲孔,第一器件凹槽的兩側(cè)設(shè)有端子槽,在上夾持機(jī)構(gòu)的底部設(shè)有第二器件凹槽,第二器件凹槽的兩側(cè)設(shè)有壓塊,在上夾持機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)有豎直貫穿上夾持機(jī)構(gòu)的緊固通孔,在上夾持機(jī)構(gòu)的底面除去第二器件凹槽、壓塊和緊固通孔以外的部位設(shè)有第一緩沖墊層,在第二器件凹槽的槽底設(shè)有第二緩沖墊層,上夾持機(jī)構(gòu)蓋合在下夾持座上。本實(shí)用新型可以使微波器件在測(cè)試過程中與微帶線始終保持壓緊狀態(tài),保證微波器件測(cè)試的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性和無損性。
本發(fā)明涉及一種碘化鉛光電導(dǎo)層基數(shù)字X射線平板探測(cè)器,包括矩陣式薄膜晶體管玻璃基板;光電導(dǎo)層,設(shè)置在所述矩陣式薄膜晶體管玻璃基板上;頂電極層,設(shè)置在所述光電導(dǎo)層表面。本發(fā)明提供的這種碘化鉛光電導(dǎo)層基數(shù)字X射線平板探測(cè)器采用碘化鉛材料層作為光電導(dǎo)層,將X射線光子直接轉(zhuǎn)換成電荷信號(hào),實(shí)現(xiàn)數(shù)字X射線成像,該材料結(jié)構(gòu)和性能優(yōu)良,制備工藝簡單,易于實(shí)現(xiàn)低成本、大面積和大厚度要求的連續(xù)和穩(wěn)定制備。因此,本發(fā)明提供的數(shù)字X射線平板探測(cè)器能降低放射醫(yī)療成像和無損探測(cè)成像成本,而能在放射成像領(lǐng)域內(nèi)推廣和普及。
本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于抽油泵柱塞的測(cè)量方法。該應(yīng)用于抽油泵柱塞的測(cè)量方法包括:(a)測(cè)量柱塞外徑尺寸偏差、直線度、圓度、表面磨損及腐蝕;(b)表面擦傷痕跡寬度和深度,表面無明顯鍍層脫落或腐蝕現(xiàn)象;(c)全長軸向上下偏差;(d)端部螺紋無損壞或損壞痕跡。本發(fā)明通過對(duì)抽油泵的柱塞進(jìn)行測(cè)量,從而起到測(cè)量抽油泵柱塞質(zhì)量的目的,且測(cè)量精度高,測(cè)量步驟簡單,所需的成本低。
本發(fā)明公開一種基于啁啾調(diào)制相關(guān)解調(diào)方式和雙層光聲模型的材料熱擴(kuò)散率測(cè)量方法,所述方法運(yùn)用強(qiáng)度啁啾調(diào)制的激光激勵(lì)雙層樣品產(chǎn)生光聲信號(hào),并由耦合在雙層樣品后表面的壓電換能器所探測(cè),該光聲信號(hào)與雙層樣品中上層材料的熱物理特性、上下兩層材料彈性性能及厚度、啁啾激勵(lì)光特性相關(guān);在啁啾激勵(lì)光特性及上下兩層材料厚度已知的情況下,通過將不同上下層彈性性能比和熱擴(kuò)散率的啁啾激光激勵(lì)參考光聲信號(hào)與測(cè)量得到光聲信號(hào)做相關(guān)運(yùn)算,則相關(guān)峰最大值所對(duì)應(yīng)的熱擴(kuò)散率即為上層材料的熱擴(kuò)散率。本方法為雙層樣品中上層材料的熱擴(kuò)散率測(cè)量提供了一種無損、快速的測(cè)量方法。
本發(fā)明涉及一種基于光纖光柵陣列探測(cè)的內(nèi)窺鏡成像系統(tǒng)及裝置,包括:計(jì)算機(jī)成像模塊、光聲信號(hào)激發(fā)模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、光纖光柵內(nèi)窺鏡探頭模塊;計(jì)算機(jī)成像模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)圖像重建處理,并將重建后的圖像存儲(chǔ)和顯示;光聲信號(hào)激發(fā)模塊發(fā)出的光信號(hào)穿過內(nèi)窺鏡探頭照射待測(cè)部位;數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行放大、去噪;光纖光柵內(nèi)窺鏡探頭模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)光聲信號(hào)的探測(cè)。內(nèi)窺鏡成像系統(tǒng)的探頭設(shè)計(jì),是基于光纖光柵的反射式傳感原理,通過超聲微型馬達(dá)帶動(dòng)直角棱鏡的轉(zhuǎn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)部位全方位探測(cè)。本發(fā)明具有無損、快速的成像優(yōu)點(diǎn),能夠達(dá)到傳統(tǒng)超聲內(nèi)窺鏡達(dá)不到的尺寸,抗電磁干擾能力強(qiáng),而且易于操作,能量消耗少,成本低。
本發(fā)明公開了一種對(duì)流換熱系數(shù)的快速測(cè)量方法,適用于介質(zhì)表面隨溫度變化條件的流換熱系數(shù)測(cè)量。該測(cè)量方法核心思想是,將對(duì)流換熱系數(shù)的測(cè)量轉(zhuǎn)換為求解熱傳導(dǎo)問題邊界未知參數(shù)的優(yōu)化問題,根據(jù)介質(zhì)溫度?超聲傳播特性,采用超聲回波法,基于熱傳導(dǎo)反問題的求解可快速、無損地測(cè)量隨溫度變化的表面流換熱系數(shù);本發(fā)明的方法具有測(cè)量裝置簡單、測(cè)量周期短、避免傳感器與被測(cè)試件接觸干擾以及測(cè)量范圍不受傳感器耐高溫性能限制等優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明公開了一種空心微球保氣性能在線拉曼測(cè)量方法,包括:步驟一、基于拉曼光譜儀對(duì)空心微球內(nèi)部燃料氣體進(jìn)行光譜采集;步驟二、對(duì)空心微球內(nèi)部燃料氣體進(jìn)行特征峰面積的數(shù)據(jù)處理;通過選取合適范圍的拉曼光譜,確定峰譜范圍后進(jìn)行峰位擬合,得出特征峰面積;步驟三、獲取氣壓?特征峰面積的擬合曲線;步驟四、對(duì)空心微球內(nèi)部燃料氣體進(jìn)行在線保氣半壽命計(jì)算。本發(fā)明提供的拉曼光譜法是一種無損、快速而靈敏的測(cè)量空心微球內(nèi)氣體保氣半壽命的方法,不受球殼材料限制,目前所用的玻璃空心微球和塑料空心微球均適用,可測(cè)量空心微球?qū)Ω鞣N燃料氣體的保氣半壽命;該方法可在短時(shí)間內(nèi)測(cè)量大量樣品,受系統(tǒng)干擾小。
本發(fā)明提供了一種測(cè)量非透明薄膜厚度分布的雙面干涉裝置和方法,所述方法設(shè)置了兩個(gè)物光對(duì)向、共軸的白光干涉光路,位移臺(tái)帶動(dòng)厚度標(biāo)樣或薄膜樣品沿物光光軸方向步進(jìn)運(yùn)動(dòng),同時(shí),兩個(gè)面陣探測(cè)器采集厚度標(biāo)樣或薄膜樣品表面的形貌信息,通過厚度標(biāo)樣標(biāo)定兩個(gè)干涉物鏡的干涉焦面間的距離,進(jìn)而計(jì)算薄膜樣品厚度分布,應(yīng)用本方法制成的測(cè)量裝置,無需輔助夾具,可實(shí)現(xiàn)非透明薄膜厚度分布的快速、無損和精確測(cè)量。
本發(fā)明涉及電力電纜技術(shù)領(lǐng)域,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:FDR波峰推移測(cè)算波速電纜絕緣性能評(píng)估方法,包括以下主要步驟:S1、首先對(duì)電纜整體絕緣性能的評(píng)估原理進(jìn)行分析;S2、其次驗(yàn)證利用頻域反射技術(shù)評(píng)估電纜整體絕緣性能的有效性,并且開展仿真測(cè)試;S3、最后驗(yàn)證利用頻域反射技術(shù)評(píng)估電纜整體絕緣性能方法的有效性。通過S1、S2、S3之間的分布配合步驟實(shí)現(xiàn)FDR波峰推移測(cè)算波速電纜絕緣性能評(píng)估,采用這種方法科學(xué)性較高,邏輯性較強(qiáng),一改以往老舊的評(píng)估步驟,通過對(duì)電纜進(jìn)行開展定期的頻域反射測(cè)試并比對(duì)定期測(cè)試結(jié)果來實(shí)現(xiàn)電纜整體絕緣性能的無損評(píng)估。
本發(fā)明公開了一種基于調(diào)制弱值放大技術(shù)的相位分布測(cè)量裝置及方法,該相位分布測(cè)量裝置設(shè)置有系統(tǒng)前選擇態(tài)單元、第一相位補(bǔ)償單元、系統(tǒng)后選擇態(tài)單元,本發(fā)明主要基于標(biāo)準(zhǔn)量子弱值放大技術(shù),以光偏振作為量子系統(tǒng)自由度,采用相位補(bǔ)償策略,通過設(shè)置合適的第一相位補(bǔ)償單元和系統(tǒng)后選擇態(tài)單元,可對(duì)一個(gè)波長以內(nèi)的任意相位實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,是一種新型的、無損的直接光學(xué)傳感測(cè)量技術(shù),適用于生物醫(yī)學(xué)、分析化學(xué)、材料學(xué)等多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域的相位高精度測(cè)量及成像分析,具有重要應(yīng)用價(jià)值。
本實(shí)用新型公開了一種大壩碾壓混凝土初凝時(shí)間彈性波測(cè)試裝置,包括錐型螺紋式彈性波傳導(dǎo)器和彈性波拾取器;錐型螺紋式彈性波傳導(dǎo)器與彈性波拾取器之間設(shè)有用于二者連接的分離式連接器,彈性波拾取器上設(shè)有數(shù)據(jù)傳輸線。本實(shí)用新型測(cè)試裝置傳感器利用率高、減少彈性波信號(hào)能量衰減、現(xiàn)場(chǎng)布置快速簡便、測(cè)試精度高、成本低,并且在測(cè)試混凝土內(nèi)無殘余物、對(duì)混凝土無損害。
本發(fā)明公開了一種測(cè)定微納米炸藥晶體粉末比表面積的方法。該方法包括如下步驟:首先將待測(cè)微納米炸藥晶體粉末裝入石英樣品盒,然后做小角散射測(cè)試,并對(duì)小角散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理獲得絕對(duì)強(qiáng)度散射曲線,然后通過Porod擬合和計(jì)算獲得微納米炸藥晶體粉末的比表面積。本發(fā)明的測(cè)定微納米炸藥晶體粉末比表面積的方法是一種快速無損測(cè)定微納米炸藥晶體粉末比表面積的方法,具有快速、安全、綠色環(huán)保的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明測(cè)定的微納米炸藥晶體粉末比表面積是表征微納米炸藥晶體粉末微觀形態(tài)特征的重要參數(shù),可用于進(jìn)一步深入探索炸藥晶體粉末形態(tài)特征對(duì)其宏觀感度、力學(xué)性能、爆燃特性等的影響。
本發(fā)明提供了一種材料微觀變形的測(cè)試方法,所述的方法使用對(duì)稱式衍射實(shí)驗(yàn)和雙通道聲探測(cè)相結(jié)合的布局,測(cè)試整個(gè)應(yīng)力加載過程中樣品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)演化信息,實(shí)現(xiàn)了直接對(duì)塊體材料內(nèi)部靜態(tài)和動(dòng)態(tài)微觀變形信息的原位無損測(cè)量。根據(jù)樣品晶體結(jié)構(gòu)選定相應(yīng)測(cè)量晶面,并在射線源和探測(cè)器對(duì)稱分布于應(yīng)力加載裝置兩側(cè)的幾何布局下,通過衍射實(shí)驗(yàn)測(cè)量不同應(yīng)力加載階段下晶面間距和取向方向等靜態(tài)微觀變形信息,同時(shí)通過雙通道聲探頭連續(xù)探測(cè)應(yīng)力加載過程中孿晶形核和位錯(cuò)開動(dòng)等動(dòng)態(tài)微觀變形信息。本發(fā)明的材料微觀變形的測(cè)試方法,適用于宏觀應(yīng)力加載過程中金屬合金類材料內(nèi)部微觀機(jī)制過程的監(jiān)測(cè)分析,也可用于測(cè)試非金屬合金類材料的斷裂失效等特征變形信息。
本發(fā)明公開了一種瞬態(tài)條件下高溫結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度及厚度的同時(shí)測(cè)量方法,解決了瞬態(tài)條件下結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度和厚度無法同時(shí)測(cè)量的問題。該方法根據(jù)介質(zhì)溫度?超聲傳播特性,將結(jié)構(gòu)厚度和內(nèi)部溫度的同時(shí)測(cè)量轉(zhuǎn)化為熱傳導(dǎo)問題熱邊界條件和結(jié)構(gòu)厚度的多參數(shù)識(shí)別問題。采用超聲回波法,獲得瞬態(tài)傳熱條件下超聲傳播時(shí)間,通過求解熱傳導(dǎo)反問題可快速、無損、非接觸地測(cè)量相關(guān)的結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度和厚度。該方法適用于瞬態(tài)傳熱條件下高溫鍋爐、管道和模具等高溫設(shè)備相關(guān)結(jié)構(gòu)厚度和內(nèi)部溫度的同時(shí)測(cè)量。
一種3×3面陣探測(cè)器的無縫光學(xué)拼接方法,采用對(duì)稱式棱鏡結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)像面分光,在光軸垂直透射像面上布置4塊面陣探測(cè)器,在4個(gè)側(cè)面布置5塊面陣探測(cè)器。拼接結(jié)構(gòu)對(duì)稱簡單,數(shù)量少,分布集中,全反全透分光后能量無損失,該無縫拼接方法可應(yīng)用于航空、航天光學(xué)成像、光學(xué)探測(cè)儀器及設(shè)備,特別適用于超大面陣探測(cè)器的航空、航天成像光電系統(tǒng)。
本發(fā)明公開一種利用拉曼光譜測(cè)量非化學(xué)計(jì)量比氧化膜微區(qū)應(yīng)力的方法,包括:(1)在無應(yīng)力條件下,利用拉曼光譜對(duì)不同化學(xué)計(jì)量比粉體材料進(jìn)行測(cè)量,建立特征拉曼峰強(qiáng)比R與晶格振動(dòng)峰位ω0的關(guān)系曲線;(2)分析待測(cè)薄膜的拉曼光譜數(shù)據(jù),得到特征拉曼峰強(qiáng)比R′和拉曼晶格振動(dòng)峰位置ωp,然后根據(jù)R′的值利用關(guān)系曲線得到對(duì)應(yīng)的ω’0;(3)對(duì)粉體材料進(jìn)行高壓拉曼實(shí)驗(yàn),得到晶格振動(dòng)峰位與應(yīng)力之間的關(guān)系k’1;(4)代入公式σ=k’1(ωp-ω’0),得到待測(cè)薄膜的應(yīng)力值。本發(fā)明可使拉曼光譜法推廣到測(cè)量非化學(xué)計(jì)量比氧化膜的內(nèi)應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)這類薄膜原位、無損的微區(qū)內(nèi)應(yīng)力測(cè)量,準(zhǔn)確度較現(xiàn)有的拉曼光譜測(cè)量應(yīng)力方法有大幅的提高。
本發(fā)明公開了一種二端口微帶器件測(cè)試裝置,其包括X軸位移平臺(tái)、射頻連接器載臺(tái)A、射頻連接器載臺(tái)B、Z軸位移平臺(tái)A、Z軸位移平臺(tái)B,X軸位移平臺(tái)、承托板載臺(tái)A和承托板載臺(tái)B、承托板、滾珠彈簧螺絲和待測(cè)件載臺(tái);其中,所述射頻連接器載臺(tái)A和射頻連接器載臺(tái)B能夠在所述X軸位移平臺(tái)沿X方向移動(dòng);滾珠彈簧螺絲設(shè)置于所述承托板載臺(tái)A和承托板載臺(tái)B的腔體內(nèi)且位于所述承托板下方;待測(cè)件載臺(tái)位于所述射頻連接器載臺(tái)A和射頻連接器載臺(tái)B之間的承托板上。通過本發(fā)明,可快速高效完成器件測(cè)試,且使用壓接的方法完成微帶線的連接,不需要焊接,無損測(cè)試;且適用于各種微帶線器件,不同長度、不同寬度和不同介質(zhì)厚度均可使用。
本發(fā)明公開了一種智能變電站接口回路測(cè)試的報(bào)文篩選捕獲方法,方法為:對(duì)捕獲的報(bào)文結(jié)合GOOSE報(bào)文內(nèi)部特定位置存在的特定編碼和GOOSE報(bào)文內(nèi)的GooseID信息對(duì)GOOSE報(bào)文進(jìn)行篩選,得到測(cè)試所需報(bào)文;將篩選出的測(cè)試所需報(bào)文進(jìn)行存儲(chǔ)為二進(jìn)制報(bào)文文件;從存儲(chǔ)的報(bào)文文件中選擇并讀取報(bào)文內(nèi)容,將讀取的報(bào)文內(nèi)容轉(zhuǎn)發(fā)至被測(cè)試設(shè)備。本發(fā)明中,實(shí)現(xiàn)實(shí)際的二次設(shè)備出口報(bào)文抓取并儲(chǔ)存的功能,基于存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)的機(jī)制,保證GOOSE報(bào)文的原始性,不會(huì)被任何測(cè)試設(shè)備更改,且報(bào)文捕獲存儲(chǔ)與轉(zhuǎn)發(fā)報(bào)文測(cè)試設(shè)備在時(shí)間、地域上完全是獨(dú)立的,無依賴性。本方法既能保證報(bào)文完整無損,又能較大地節(jié)約磁盤空間,在離線和非實(shí)時(shí)情況下發(fā)送所捕獲并儲(chǔ)存的報(bào)文對(duì)其他二次設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
本發(fā)明公開了一種基于S變換的結(jié)構(gòu)光三維面形垂直測(cè)量方法,其進(jìn)行一次掃描測(cè)量即可同時(shí)利用S變換取脊和S變換濾波兩種方法獲得各條紋圖調(diào)制度值的分布從而實(shí)現(xiàn)三維面形的測(cè)量。本發(fā)明所述的S變換是一種無損、可逆的時(shí)頻分析方法,與小波變換相比,S變換取脊方法不僅具有多分辨率的特點(diǎn),其變換系數(shù)還與該信號(hào)的傅里葉頻譜有著直接的聯(lián)系,可獲得比小波變換更為精確的調(diào)制度值;與傅里葉變換相比,S變換濾波方法采用高斯窗函數(shù)且窗寬與頻率的倒數(shù)成正比,改善了窗寬固定的缺陷,具有良好的時(shí)頻分析特性,能更完整地保留被測(cè)物體的細(xì)節(jié)部分。通過本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法精確地重建被測(cè)物體的三維面形的問題,提高了測(cè)量精度。
采用全反棱鏡實(shí)現(xiàn)3×3面陣探測(cè)器的無縫拼接方法,實(shí)現(xiàn)了3×3模式共9片面陣探測(cè)器組合形成的像面無縫拼接,本發(fā)明采用全反棱鏡組合實(shí)現(xiàn)像面分光,在光軸垂直透射像面上布置3塊面陣探測(cè)器,在4個(gè)側(cè)面布置6塊面陣探測(cè)器。棱鏡結(jié)構(gòu)簡單,全反全透分光后能量無損失。像面拼接可由小規(guī)模面陣探測(cè)器組合實(shí)現(xiàn)大規(guī)模面陣或超大規(guī)模面陣探測(cè)器的需求。該無縫拼接方法可應(yīng)用于航空、航天光學(xué)成像、光學(xué)探測(cè)儀器及設(shè)備,特別適用于超大面陣探測(cè)器的航空、航天成像光電系統(tǒng)。
本發(fā)明公開了一種測(cè)量DKDP晶體氘含量均勻性的方法。本發(fā)明利用ν1模拉曼頻移作為表征DKDP晶體氘含量的參量,通過顯微共聚焦拉曼光譜測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量DKDP晶體不同位置ν1模的拉曼頻移獲得該晶體氘含量的空間分布,進(jìn)而可以對(duì)其氘含量均勻性進(jìn)行評(píng)估,該測(cè)量方法操作簡便,降低了儀器測(cè)量誤差、DKDP晶體表面氘含量衰減、數(shù)據(jù)處理誤差及周圍環(huán)境等因素的影響,實(shí)現(xiàn)了DKDP晶體氘含量均勻性的在線無損測(cè)量。
本發(fā)明公開了一種施工現(xiàn)場(chǎng)混凝土硬化監(jiān)測(cè)方法。包括模型試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)部分;模型試驗(yàn)包括制作混凝土模型、安裝激振器和拾振器、制作混凝土抗壓強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試塊數(shù)塊、在混凝土終凝時(shí)間到混凝土試件拆模階段內(nèi)定期進(jìn)行混凝土試塊抗壓強(qiáng)度測(cè)定試驗(yàn),同時(shí)進(jìn)行振動(dòng)主頻監(jiān)測(cè)試驗(yàn),獲得混凝土振動(dòng)主頻?混凝土抗壓強(qiáng)度關(guān)系;現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)包括安裝激振器和拾振器,自混凝土澆筑完成后12小時(shí)起至,每隔1小時(shí)對(duì)進(jìn)行一次振動(dòng)主頻監(jiān)測(cè),反饋頻率接近終凝時(shí)間和最佳拆模時(shí)間的理論振動(dòng)主頻時(shí),提示拆模。本發(fā)明建立混凝土振動(dòng)主頻與混凝土立方體抗壓強(qiáng)度曲線,其相關(guān)系數(shù)大于0.96;本發(fā)明能對(duì)早齡期混凝土凝結(jié)過程進(jìn)行實(shí)時(shí)無損監(jiān)測(cè),便捷、準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)提示拆模。
本發(fā)明公開了一種二維材料的晶向測(cè)試裝置和方法,該裝置沿光路依次包括激發(fā)光路、位移臺(tái)和收集光路;激發(fā)光路,用于產(chǎn)生徑向偏振光,并將徑向偏振光聚焦到待測(cè)樣品上;位移臺(tái),用于放置待測(cè)樣品;收集光路,用于接收待測(cè)樣品的透射光,并得到透射光斑的光強(qiáng)分布。本發(fā)明提出的基于徑向偏振光的二維材料的晶向測(cè)試方法可以實(shí)現(xiàn)二維材料樣品晶向的非接觸、高效、無損測(cè)試,相比于傳統(tǒng)二維材料晶向測(cè)試技術(shù)大大縮短了測(cè)量時(shí)間,降低了操作復(fù)雜度。
本發(fā)明公開了一種圓片尺寸的測(cè)量裝置。該裝置包括:機(jī)器人,用于提供圓片測(cè)量過程中不同工位的移動(dòng),與機(jī)器人移動(dòng)軸相連接的機(jī)械抓手,用于提供多種圓片的吸??;托盤機(jī)構(gòu),用于放置超薄圓片并移動(dòng)至吸取工位;拍照機(jī)構(gòu),用于測(cè)量超薄圓片的內(nèi)外徑及圓心;測(cè)量機(jī)構(gòu),用于測(cè)量超薄圓片厚度。本發(fā)明的圓片尺寸的測(cè)量裝置通過機(jī)器人帶動(dòng)機(jī)械抓手吸取位于托盤上不同位置處的圓片,實(shí)現(xiàn)不同圓片在測(cè)量工位的測(cè)量,最終根據(jù)測(cè)量結(jié)果放回托盤。本發(fā)明的圓片尺寸的測(cè)量裝置利用機(jī)器人帶動(dòng)機(jī)械抓手完成了多種圓片無損傷移動(dòng),利用拍照機(jī)構(gòu)和測(cè)量機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)內(nèi)外徑及厚度測(cè)量,提高了測(cè)量精度及效率,可用于用于工業(yè)推廣。
本發(fā)明是一種基于聚焦評(píng)價(jià)算法的結(jié)構(gòu)光微納三維形貌測(cè)量方法,傳統(tǒng)的基于聚焦評(píng)價(jià)函數(shù)的三維測(cè)量方法具有測(cè)量系統(tǒng)簡單、無損傷等特點(diǎn),但由于其本質(zhì)是根據(jù)物體本身紋理信息對(duì)聚焦程度進(jìn)行判斷,對(duì)于表面結(jié)構(gòu)光滑、紋理不足的物體難以測(cè)量。本發(fā)明提出了一種結(jié)合結(jié)構(gòu)光照明和聚焦評(píng)價(jià)函數(shù)的三維形貌輪廓術(shù),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)光滑和粗糙表面共存的物體測(cè)量。在測(cè)量系統(tǒng)中,將DMD產(chǎn)生的圖案投影到物體表面,縱向掃描物體獲得待處理圖片,對(duì)于一個(gè)像素點(diǎn)而言,在圖像序列中表現(xiàn)為從模糊到清晰再到模糊的過程,其中使用聚焦評(píng)價(jià)算法定位像素點(diǎn)成像最清晰的圖片位置,再結(jié)合曲線擬合算法提取精確聚焦位置,遍歷所有像素點(diǎn)即可獲取物體三維形貌。
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