本發(fā)明提供一種基于原子力顯微鏡的納米尺度熱導(dǎo)?電疇原位表征裝置包括:納米熱學(xué)?機(jī)電信號(hào)原子力顯微鏡原位激勵(lì)平臺(tái),對(duì)被測(cè)納米
功能材料樣品原位激發(fā)微區(qū)熱學(xué)?機(jī)電信號(hào);納米熱學(xué)?機(jī)電信號(hào)原位檢測(cè)平臺(tái),對(duì)所述微區(qū)熱學(xué)?機(jī)電信號(hào)進(jìn)行原位實(shí)時(shí)檢測(cè)及數(shù)據(jù)處理以得到所述被測(cè)納米功能材料樣品的微區(qū)熱導(dǎo)率、電疇結(jié)構(gòu),并實(shí)時(shí)顯示所述被測(cè)納米功能材料樣品的微區(qū)熱導(dǎo)率、電疇結(jié)構(gòu)的成像表征結(jié)果。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)納米功能材料熱導(dǎo)與電疇的原位、實(shí)時(shí)、集成表征。
聲明:
“基于原子力顯微鏡的納米尺度熱導(dǎo)-電疇原位表征裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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