本發(fā)明提供了一種掃描探針顯微鏡中的探針。該探針由探針臂與針尖組成,針尖由針尖本體,以及依次位于針尖本體表面的薄膜一、薄膜二、薄膜三組成;薄膜一具有導(dǎo)電性;薄膜二具有電絕緣性;薄膜三具有磁性與導(dǎo)電性,或者薄膜三具有導(dǎo)電性;薄膜一與薄膜三的材料不同,并且薄膜一、薄膜二和薄膜三構(gòu)成熱電偶結(jié)構(gòu)。利用該探針能夠?qū)Χ?a href="http://www.189000b.com/meet_show-248.html" target="_blank">功能材料的磁、電、熱多參量進(jìn)行原位表征,從而能夠原位、直觀地研究材料的電-熱、磁-熱,以及磁-電-熱之間的耦合規(guī)律與機(jī)制。
聲明:
“掃描探針顯微鏡中的探針、其制備方法及探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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