本發(fā)明公開了一種透視測量樹脂基
復(fù)合材料構(gòu)件內(nèi)部離面位移場分布的裝置及方法。該裝置是設(shè)計邁克爾遜多表面干涉的光學(xué)系統(tǒng),在參考臂端引入一個雙表面光楔,形成光楔和被測樹脂基復(fù)合材料內(nèi)部反射信號之間的干涉圖像。光楔有兩個作用,首先用于監(jiān)測激光波數(shù)k,其次提供干涉的參考平面。通過溫度掃描,半導(dǎo)體激光控制器輸出激光的波數(shù)也進(jìn)行掃描,與此同時,CCD相機(jī)拍攝多幀干涉圖像。分別對加載前后干涉圖像序列進(jìn)行傅里葉變換,干涉峰值對應(yīng)的相位差可以解調(diào)出被測樹脂基復(fù)合材料構(gòu)件內(nèi)部離面位移場分布。該裝置及方法的優(yōu)點是可以進(jìn)行透視測量,且離面位移場測量精度高,為樹脂基復(fù)合材料內(nèi)部力學(xué)性能測量和無損檢測提供了一種新的技術(shù)平臺。
聲明:
“透視測量樹脂基復(fù)合材料內(nèi)部離面位移場分布的裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)