本發(fā)明實(shí)施例公開了一種基于射線圖像的
復(fù)合材料缺陷識(shí)別方法,涉及機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域,無需通過目測(cè)法或者直接破壞的方法識(shí)別圖像中復(fù)合材料的缺陷。本發(fā)明包括:進(jìn)行X線攝影,得到所述樣件的DR圖像;通過自適應(yīng)中值濾波對(duì)所述樣件的DR圖像進(jìn)行濾波,并對(duì)濾波后的DR圖像進(jìn)行特征銳化;對(duì)經(jīng)過特征銳化的DR圖像進(jìn)行標(biāo)注,得到數(shù)據(jù)集,再將所述數(shù)據(jù)集導(dǎo)入yolo?v3模型中訓(xùn)練;通過訓(xùn)練的yolo?v3模型,對(duì)待檢測(cè)樣件的DR圖像進(jìn)行網(wǎng)格劃分,利用K-Means聚類算法對(duì)每個(gè)網(wǎng)格進(jìn)行處理后,得到檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明適用于復(fù)合材料缺陷檢測(cè)。
聲明:
“基于射線圖像的復(fù)合材料缺陷識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)