本發(fā)明提供了一種基于表面圖像灰度信息測量C/SiC
復合材料加工表面粗糙度的方法。該方法通過采集C/SiC復合材料加工表面的圖像并提取灰度信息來進行粗糙度測量。關(guān)鍵是圖像的處理和灰度信息與粗糙度關(guān)系的建立。本發(fā)明利用matlab進行圖像的灰度化、局部灰度值修正和灰度信息的提取,通過多個試樣的灰度信息和粗糙度數(shù)據(jù)建立灰度與粗糙度的關(guān)系。該方法的優(yōu)點是非接觸、無損傷,同時解決了C/SiC材料表面由于存在孔隙而導致的粗糙度難以測量的問題。
聲明:
“基于圖像灰度信息測量C/SiC復合材料加工表面粗糙度的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)