本發(fā)明提供一種結(jié)合柔性電路的微納米傳感器結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)方法,涉及
復(fù)合材料健康監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明提供一種結(jié)合柔性電路的微納米傳感器結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)方法,柔性電路為共陰極電路或共陽(yáng)極電路,極大的減少了導(dǎo)線的數(shù)量,增加了被監(jiān)測(cè)點(diǎn)的監(jiān)測(cè)方向,進(jìn)一步減少埋入柔性傳感器列陣而引起的缺陷對(duì)復(fù)合材料力學(xué)性能的影響,極大減少因?qū)⒋罅總鞲衅髀袢霃?fù)合材料結(jié)構(gòu)內(nèi)部而引缺陷并提高傳感器的存活率。
聲明:
“結(jié)合柔性電路的微納米傳感器結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)