本發(fā)明屬于納米
復(fù)合材料制備及應(yīng)用領(lǐng)域,具體公開了一種基于分形維數(shù)的
碳納米管分散狀態(tài)的數(shù)值化表征方法。該方法首先通過獲取分散體系中碳納米管分散狀態(tài)的掃描電鏡圖片,然后采用圖像處理軟件(ImageJ)將所得掃描電鏡圖片進(jìn)行二值化處理,再提取出圖片中單根碳納米管或者碳納米管團(tuán)聚體的邊界輪廓,最后利用盒子算法計(jì)算處理后圖片的分形維數(shù),所得的分形維數(shù)值即是對碳納米管分散狀態(tài)中豐富信息的定量化描述,從而實(shí)現(xiàn)分散體系中碳納米管分散狀態(tài)的數(shù)值化表征。通過本發(fā)明,量化了碳納米管的分散狀態(tài),為碳納米管復(fù)合材料宏觀性能的調(diào)控,對比及預(yù)測提供了有力的依據(jù)。
聲明:
“基于分形維數(shù)的碳納米管分散狀態(tài)的數(shù)值化表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)