本發(fā)明公開了一種同時(shí)測量微
納米材料熱導(dǎo)率和發(fā)射率的方法。該測量方法主要包括:(1)利用雙熱線結(jié)構(gòu)同時(shí)測量高分子
復(fù)合材料纖維的熱導(dǎo)率與發(fā)射率。(2)將待測試樣兩端分別粘接于兩根平行鉑金線(雙熱線)中心位置,比較搭接待測樣品前后熱線平均溫升的變化,獲得加熱端熱線向待測線傳導(dǎo)的熱量和接收端熱線獲得的熱量,確定待測線的熱導(dǎo)率與發(fā)射率。(3)測得單根鉑金線熱導(dǎo)率(λ=71.7W·m?1·K?1)和發(fā)射率(ε=0.14)與參考值吻合;同時(shí)測得高分子復(fù)合材料纖維熱導(dǎo)率和發(fā)射率分別為1.67W·m?1·K?1和0.45。本發(fā)明公開的測量原理對待測線性質(zhì)無特殊要求,具有測量精度高、應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“同時(shí)測量微納米材料熱導(dǎo)率和發(fā)射率的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)