本公開(kāi)涉及一種用于測(cè)試材料的方法和設(shè)備。更具體地但非排他性地,本發(fā)明涉及一種利用紅外光譜法測(cè)試材料的方法和設(shè)備。本發(fā)明還涉及對(duì)在利用紅外光譜法測(cè)試材料時(shí)使用的紅外光譜儀進(jìn)行校正。本發(fā)明提供了一種對(duì)紅外光譜儀進(jìn)行校正以用于對(duì)航空航天工業(yè)中的
復(fù)合材料進(jìn)行測(cè)試的方法,該方法包括下述步驟,選擇具有影響在航空航天工業(yè)中使用的復(fù)合材料的可能性的物理特性的多個(gè)變量,為每個(gè)變量選擇多個(gè)值,以及將變量和值輸入到實(shí)驗(yàn)?zāi)P偷脑O(shè)計(jì)中,由此獲得樣品測(cè)試矩陣。
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“用于測(cè)試材料的方法和設(shè)備” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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