本發(fā)明涉及一種AIE分子探針在鋰金屬負(fù)極的檢測中的應(yīng)用。利用AIE分子作為探針能夠?qū)崿F(xiàn)可視化檢測鋰金屬負(fù)極表面的鋰沉積、鋰枝晶、死鋰、副產(chǎn)物以及固體電解質(zhì)界面膜。
聲明:
“AIE分子探針在鋰金屬負(fù)極的檢測中的應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)