本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于檢測(cè)分析電極材料充放電相變過(guò)程的原位XRD裝置,目的在于解決現(xiàn)有的原位XRD裝置內(nèi)正極極片位于鋰片的上方,X射線需要透過(guò)正極極片內(nèi)的鋁箔才能得到衍射峰,信噪比差且對(duì)材料制備要求高的問(wèn)題。主要方案包括密封腔體和
電化學(xué)單元,所述密封腔體具有一密閉的容納腔;所述電化學(xué)單元位于所述容納腔內(nèi),所述電化學(xué)單元包括依次設(shè)置的鈹片、
正極材料、隔膜、鋰片、墊片以及彈片,所本實(shí)用新型提出的技術(shù)方案的有益效果是:通過(guò)將正極材料涂在鈹片表面,使鈹片作為集流體,從而避免了正極極片內(nèi)的鋁箔對(duì)X射線衍射的影響,提高了信噪比,能顯著提高XRD譜圖質(zhì)量。
聲明:
“用于檢測(cè)分析電極材料充放電相變過(guò)程的原位XRD裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)