本發(fā)明提供一種存儲
芯片的性能檢測方法和系統(tǒng),其中,方法包括:步驟S1:獲取存儲芯片的標(biāo)識信息;步驟S2:基于標(biāo)識信息確定檢測方案;步驟S3:基于檢測方案對存儲芯片進行性能檢測,輸出性能檢測報告;其中,標(biāo)識信息包括:材質(zhì)、型號、容量、存儲速度、工作溫度、響應(yīng)時間其中一種或多種結(jié)合。本發(fā)明的存儲芯片的性能檢測方法,根據(jù)存儲芯片的標(biāo)識信息采用針對的檢測方案,實現(xiàn)全方位的性能檢測。
聲明:
“一種存儲芯片的性能檢測方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)