本申請涉及一種電機綜合性能檢測方法、裝置及設(shè)備,包括:獲取待測電機的性能參數(shù);將性能參數(shù)與預(yù)設(shè)合格條件進行比較,得到比較結(jié)果;根據(jù)比較結(jié)果得到檢測結(jié)果。此過程中,由電機綜合性能檢測設(shè)備獲取待測電機的所有性能參數(shù)后,自動與合格條件進行比較,通過比較的結(jié)果得到檢測結(jié)果,完全不用人工進行判斷,由于是由電機綜合性能檢測設(shè)備這一個設(shè)備獲取的性能參數(shù),且會自動根據(jù)性能參數(shù)和預(yù)設(shè)的合格條件得到檢測結(jié)果,沒有人為主觀因素的干擾,所以檢測的過程更加簡單,檢測結(jié)果的準確度更高。
聲明:
“電機綜合性能檢測方法、裝置及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)