本發(fā)明提供一種正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)飛行時間性能檢測方法及裝置,該方法包括:使用該系統(tǒng)對活度規(guī)則分布的受檢對象進行數(shù)據(jù)采集;將采集的數(shù)據(jù)進行有飛行時間信息的反投影操作,獲取第一反投影數(shù)據(jù);將采集的數(shù)據(jù)進行無飛行時間信息的反投影操作,獲取第二反投影數(shù)據(jù);將第一及第二反投影數(shù)據(jù)進行對比,根據(jù)對比數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)的飛行時間性能。本發(fā)明可便捷高效地檢測系統(tǒng)的飛行時間性能。
聲明:
“正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)飛行時間性能檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)