本發(fā)明公開了一種高溫超導(dǎo)內(nèi)插線圈,包括雙餅線圈,所述雙餅線圈具有獨(dú)立繞線的至少兩個(gè),各所述雙餅線圈同軸疊放在支撐結(jié)構(gòu)上,每個(gè)所述雙餅線圈的線材兩端分別形成第一端頭和第二端頭,相鄰兩所述雙餅線圈的線材端頭通過餅間接頭連接,最頂層雙餅線圈的第一端頭連接電流引線一,最底層雙餅線圈的第二端頭連接電流引線二;每個(gè)所述雙餅線圈和每個(gè)餅間接頭上均外接有電位線。本發(fā)明的高溫超導(dǎo)內(nèi)插線圈,可以對每個(gè)雙餅線圈獨(dú)立的進(jìn)行性能檢測,以及對由多個(gè)雙餅線圈連接后的整體進(jìn)行性能檢測,確保進(jìn)入固封階段的線圈整體性能符合要求,獲得性能穩(wěn)定可靠的高溫超導(dǎo)內(nèi)插線圈,提高內(nèi)高溫超導(dǎo)內(nèi)插線圈的良率。
聲明:
“高溫超導(dǎo)內(nèi)插線圈及其制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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