本發(fā)明公開了一種總全向靈敏度性能評估方法,包括以下步驟:檢測待測產(chǎn)品的空口靈敏度和傳導靈敏度;計算空口靈敏度和傳導靈敏度的差值;將差值與預設閾值進行比較,如果差值大于預設閾值,則待測產(chǎn)品的總全向靈敏度性能不符合需求;如果差值不大于預設閾值,則進行步驟:根據(jù)待測產(chǎn)品的天線的場型圖,判斷待測產(chǎn)品的天線的類型是否屬于預設類型,如果不屬于預設類型,則待測產(chǎn)品的總全向靈敏度性能不符合需求,如果屬于預設類型,則待測產(chǎn)品的總全向靈敏度性能符合需求。本發(fā)明的總全向靈敏度性能評估方法縮短了產(chǎn)品性能測試時間,節(jié)省了測試成本。
聲明:
“總全向靈敏度性能評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)