本發(fā)明涉及
芯片生產(chǎn)技術領域,具體公開了一種芯片自動測試系統(tǒng)及芯片測試方法,該芯片自動測試系統(tǒng)包括喂料單元、傳輸單元、至少一個測試單元以及裝料單元;喂料單元用于儲存第一容器,且可將第一容器中盛放的芯片轉(zhuǎn)移至傳輸單元,傳輸單元將芯片傳輸至測試單元,測試單元對芯片進行測試作業(yè);裝料單元將完成測試作業(yè)的芯片裝入第二容器。上述設置實現(xiàn)了芯片的全自動化生產(chǎn),并且通過設置多個測試單元,能夠?qū)崿F(xiàn)單個測試單元進行生產(chǎn)或者多個測試單元同時生產(chǎn),極大地提高了生產(chǎn)效率,滿足了打印耗材芯片的生產(chǎn)需求。
聲明:
“一種芯片自動測試系統(tǒng)及芯片測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)