本發(fā)明涉及一種絕緣材料對(duì)電接觸性能影響的可標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試方法及裝置，在工業(yè)電壓下，通過(guò)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載值對(duì)電觸頭加電，通過(guò)MCU控制電觸頭接觸頻率、接觸電阻的測(cè)量頻率，通過(guò)四端子法測(cè)量電觸頭的接觸電阻，通過(guò)放大濾波板去除噪聲，得到接觸電阻值，在MCU中調(diào)用故障檢測(cè)算法，據(jù)此判斷絕緣材料對(duì)電觸頭的電氣性能影響。本發(fā)明通過(guò)在工業(yè)電壓和標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載下，通過(guò)電觸頭接觸電阻的阻值變化來(lái)判斷絕緣材料對(duì)電觸頭電氣性能的影響，各影響因素均可標(biāo)準(zhǔn)化，以實(shí)現(xiàn)絕緣材料的選擇。本發(fā)明基本按照實(shí)際工作環(huán)境來(lái)作為檢測(cè)條件，負(fù)載標(biāo)準(zhǔn)化，檢測(cè)結(jié)果可重復(fù)，可靠性強(qiáng)。