本發(fā)明是一種偏峰定位光譜分析方法,其特點是:采用光譜儀進行化學元素含量分析時,在需要確定分析譜線的譜峰位置時,如果不受到其他因素的影響,則應在譜線最高點確定峰位,譜線的最高點為中心波長為λ0的分析譜線的測量點;如果受到其他因素的影響,導致在該譜線峰值位置受到干擾,則不在譜線最高點確定峰位,而在譜峰側(cè)面不受譜線干擾的斜坡處確定峰位,如果這樣,首先分別準備一個分析元素的溶液和一個干擾元素的溶液,然后用這兩個溶液分別在分析元素分析譜線處進行譜線掃描,則得到分析譜線譜圖和干擾譜線譜圖,并將兩者疊加顯示,然后在分析譜線側(cè)面選擇一個不受干擾譜線干擾的點或段作為分析峰位/分析譜段,測定所有溶液時均選擇此峰位/峰段進行分析。本發(fā)明技術(shù)方案的優(yōu)點是能夠直接、快速、準確的校正譜線重疊干擾。
聲明:
“偏峰定位光譜分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)