本發(fā)明提供一種鑒定NIST譜庫外化合物結(jié)構(gòu)的分析方法及應(yīng)用,在不切換離子源的情況下通過氣質(zhì)聯(lián)用儀實(shí)現(xiàn)“軟電離”以獲取化合物的分子離子峰,簡化測試工序的同時(shí)提高分析效率;通過分析分子離子峰的二級碎片得到化合物的完整化學(xué)結(jié)構(gòu),可鑒定NIST譜庫中未收錄的化合物,極大彌補(bǔ)了GC?MS在結(jié)構(gòu)鑒定中的局限和不足。
聲明:
“鑒定NIST譜庫外化合物結(jié)構(gòu)的分析方法及應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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