本發(fā)明提供一種離子分析裝置,包括:第一離子源,用于提供分析物離子;第二離子源,用于提供輔助離子;輔助離子的正負(fù)極性與分析物離子相反,輔助離子的離子云與分析物離子的離子云在空間分布上有重合,且至少部分所述分析物離子不與所述輔助離子產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng);離子分析器,用于對分析物離子進(jìn)行分析;離子傳輸裝置,位于第一離子源和離子分析器之間,用于使分析物離子傳輸進(jìn)入離子分析器,并拒絕輔助離子進(jìn)入離子分析器。本發(fā)明可降低或消除大量分析物離子之間的空間電荷效應(yīng),進(jìn)而提高由此條件限制下的離子分析性能,比如靈敏度、分辨率等。
聲明:
“離子分析裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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