本發(fā)明公開了一種基于量子點(diǎn)的液相
芯片檢測(cè)系統(tǒng)和方法,所述液相芯片檢測(cè)系統(tǒng)包括液相芯片、鞘流形成模塊、熒光激發(fā)光源、光學(xué)信號(hào)檢測(cè)裝置以及電路模塊;其中,所述液相芯片為經(jīng)過化學(xué)修飾的量子點(diǎn)編碼熒光微球;所述鞘流形成模塊包括微流通道,通過鞘流體將液相芯片包裹住,并在所述流動(dòng)室內(nèi)形成層流狀態(tài),以單行直線流動(dòng)依次通過微流通道,并經(jīng)過光學(xué)信號(hào)檢測(cè)裝置進(jìn)行檢測(cè),獲取熒光信號(hào);所述電路模塊為微處理器及信號(hào)處理電路。本發(fā)明所述系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單易實(shí)現(xiàn),且熒光檢測(cè)精準(zhǔn)度高,避免因發(fā)射光的重疊造成對(duì)檢測(cè)結(jié)果的干擾,具有精準(zhǔn)性高、靈敏度高和成本低的特點(diǎn),具有廣泛的市場(chǎng)應(yīng)用前景。
聲明:
“基于量子點(diǎn)的液相芯片檢測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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