本發(fā)明公開了一種基于熒光
納米材料的噴墨打印和計(jì)算機(jī)輔助表征的襯底表面探測方法,其特征是:基于納米材料在微液滴中的組裝行為及其在溶劑干燥后的堆積形貌與襯底表面的物理和化學(xué)特性之間的相關(guān)性,利用熒光納米材料在圖像采集和計(jì)算機(jī)分析中的優(yōu)勢,通過按需式噴墨打印工藝打印單層和多層熒光點(diǎn)陣,然后通過CCD獲取熒光照片并經(jīng)過計(jì)算機(jī)處理和分析獲得噴墨打印穩(wěn)定性參數(shù)、熒光點(diǎn)直徑的樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差和納米材料自組裝模式的特征參數(shù),利用這些特征參數(shù)實(shí)現(xiàn)對生產(chǎn)工藝過程中襯底的表面感知,應(yīng)用于探測襯底類型及襯底表面均勻性、以及檢測圖層間的對位。
聲明:
“基于熒光納米材料的噴墨打印和計(jì)算機(jī)輔助表征的襯底表面探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)