本發(fā)明涉及一種采用X-射線衍射極圖數(shù)據(jù)定量測定鋼中殘余奧氏體的方法,其方法是:準備好一塊狀鋼鐵材料待測試樣和一塊與待測試樣的物理狀態(tài)和化學(xué)成分相同或相近的純馬氏體標樣,除去試樣和標樣表面殘余應(yīng)力;將試樣和標樣分別放入極圖測量裝置中,將試樣或標樣置于Α不同角度位置上,得到不同衍射峰的真實衍射強度,并用公式得出各Α角度下試樣I中馬氏體的含量,并依據(jù)馬氏體的含量計算出試樣中奧氏體的含量,并將各Α角度下試樣中奧氏體含量的結(jié)果取平均值作為試樣中奧氏體含量的最后結(jié)果,完成測量過程。采用本發(fā)明中的方法來測量,可以有效地消除織構(gòu)對測量結(jié)果的影響,使測量結(jié)果與真值相差較小。
聲明:
“采用X-射線衍射極圖數(shù)據(jù)定量測定鋼中殘余奧氏體的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)