本公開提供了分子性質(zhì)預(yù)測方法、裝置及電子設(shè)備，涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及深度學(xué)習(xí)技術(shù)領(lǐng)域。具體實(shí)現(xiàn)方案為：根據(jù)目標(biāo)分子的分子式，生成目標(biāo)分子的二維分子圖和三維分子圖；針對二維分子圖和三維分子圖中每個(gè)邊，聚合邊所連接的兩個(gè)原子的原子特征和邊的邊特征，得到邊的新的邊特征；針對二維分子圖和三維分子圖中每個(gè)原子，聚合連接于原子的各個(gè)邊的邊特征，得到原子的新的原子特征；根據(jù)各原子的原子特征，確定二維分子圖的二維特征和三維分子圖的三維特征，根據(jù)預(yù)設(shè)的特征與化學(xué)性質(zhì)之間的映射關(guān)系，確定二維特征和三維特征對應(yīng)的化學(xué)性質(zhì)，作為目標(biāo)分子的化學(xué)性質(zhì)?？梢愿鼫?zhǔn)確地對目標(biāo)分子的分子性質(zhì)進(jìn)行預(yù)測。