本發(fā)明涉及一種高溫熔融玻璃電導率測試裝置,包括高溫爐(1),在高溫爐的外側(cè)包裹隔熱層(2),在高溫爐上設(shè)有觀察窗(10),在高溫爐的上側(cè)對應(yīng)設(shè)置升降裝置(3),在升降裝置(3)上固定連接支架,在支架上固定連接透明石英坩堝(5),在透明石英坩堝的鍋壁上刻有刻度線(6),在透明石英坩堝內(nèi)部的兩側(cè)分別連接一個電極(7),兩個電極均電連接
電化學工作站(8),電化學工作站通訊連接計算機(9)。本發(fā)明的優(yōu)點:本裝置能夠?qū)Ω鞣N玻璃在軟化點溫度至1650℃的溫度范圍內(nèi)的電導率進行測試,解決了實際操作過程中由于高溫環(huán)境,玻璃體膨脹而造成玻璃熔體橫截面積A和長度L采集數(shù)據(jù)不準確的問題。
聲明:
“高溫熔融玻璃電導率測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)