本發(fā)明涉及基于單根納米線電極材料的原位表征性能測試方法,單根納米線分散在絕緣層上,作為超級電容器電極活性材料,單根納米線的兩端搭建在金屬材料的集流體上,注入電解液封裝,獲得對稱式單根納米線
電化學(xué)超級電容器器件,以單根納米線為正極,以另一單根納米線為負(fù)極,然后對所述的單根納米線電極進(jìn)行原位的電輸運(yùn)性能測試,使對稱式單根納米線電化學(xué)超級電容器器件在不同的充放電下靜置。本發(fā)明的有益效果是:可以解釋多孔
石墨烯包覆MnO2納米線所形成的同軸納米線結(jié)構(gòu)作為超級電容器電極材料性能優(yōu)異的本質(zhì)原因,并為納米器件提供高功率密度能量存儲(chǔ)裝置。
聲明:
“基于單根納米線電極材料的原位表征性能測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)