本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了一種發(fā)光材料性質(zhì)的預(yù)測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì),包括以下步驟:將發(fā)光材料的樣本數(shù)據(jù)輸入第一深度學(xué)習(xí)模型中訓(xùn)練,得到第二深度學(xué)習(xí)模型;獲取待預(yù)測發(fā)光材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)簡式的第一圖像數(shù)據(jù);對所述第一圖像數(shù)據(jù)進行增強得到第二圖像數(shù)據(jù);將所述第二圖像數(shù)據(jù)輸入到第二深度學(xué)習(xí)模型中,對發(fā)光材料的發(fā)光性質(zhì)進行預(yù)測。本發(fā)明提供的技術(shù)方案通過采用深度學(xué)習(xí)的人工智能的方法,因此可以自動化地預(yù)測發(fā)光材料的發(fā)光性質(zhì),從而大幅度降低了人工驗證發(fā)光材料性質(zhì)的成本,進而加速了發(fā)光材料研發(fā)的進程。
聲明:
“發(fā)光材料性質(zhì)的預(yù)測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)