本發(fā)明公開了一種薄膜型熱電轉(zhuǎn)換器及測量方法,涉及電學(xué)計量技 術(shù),包括以硅片為襯底,利用低壓化學(xué)氣相外延方法在襯底上生長的 SiO2-Si3N4-SiO2三層薄膜夾層結(jié)構(gòu),多次磁控濺射不同材料以及多次光刻、 腐蝕制備的熱偶、加熱器和接觸電極;其中,兩個加熱器并排放置在一個 熱偶的兩側(cè)。本發(fā)明的薄膜型熱電轉(zhuǎn)換器,測量時,使交流和直流同時分 別流過兩個加熱器,在熱偶上輸出交流、直流電功率導(dǎo)致的溫度差,直接 比較交流與直流電功率,使環(huán)境溫度和溫度梯度的變化對測量結(jié)果影響大 大降低。
聲明:
“薄膜型熱電轉(zhuǎn)換器及測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)