本發(fā)明公開了一種光模塊耐MFG測試的金手指,該金手指包括有銅層、鎳層和金層,所述鎳層包覆在銅層上,金層包覆在鎳層上,金層包括有化金層和鍍金層,化金層包覆在鎳層上,鍍金層包覆在化金層上,化金層采用化學沉積工藝得到,所述鍍金層采用鍍金工藝得到。本發(fā)明還提供了一種含光模塊耐MFG測試的金手指的PCB板的制作方法,該方法經(jīng)板材準備、板層加工、金手指化金加工、金手指鍍金加工和線路板成型后期處理的步驟后,得到含光模塊耐MFG測試的金手指的PCB板。金手指在銅層上包覆鎳層,鎳層外先包覆化金層后包覆鍍金層,這樣的設(shè)置一方面保證了整體金層的厚度,另一方面利用化金層緊密無孔隙的特點,有效隔絕了外部腐蝕性氣體,極大地提高了金手指的耐腐蝕性。
聲明:
“光模塊耐MFG測試金手指及包含該金手指的PCB板制作方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)