一種發(fā)光二極管外延片的檢測方法,屬
檢測儀器領(lǐng)域。本發(fā)明是在發(fā)光二極管外延片的表面安置正負兩個電極,將一個高壓恒流源接在正負兩極,使發(fā)光二極管外延片中的p型層、n型層組成的反向二極管被擊穿。使整個電路導通,引發(fā)發(fā)光二極管外延片的發(fā)光層發(fā)光,從而達到檢測的目的。這種測量方法直接、無損、便捷,相對于光致熒光而言還可以得到正向?qū)妷?、反向漏電流等對于LED外延片而言非常重要的電學參數(shù)。
聲明:
“發(fā)光二極管外延片電致發(fā)光無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)