本發(fā)明是一種利用X射線(或γ射線)進(jìn)行無損檢查的系統(tǒng),為克服已有X射線(或γ射線)無損檢查系統(tǒng)不能對被檢查的物件進(jìn)行實(shí)時(shí)地影像分離的缺點(diǎn),本發(fā)明包括:X射線(或γ射線)產(chǎn)生裝置、矩陣存貯裝置、整形裝置、第一和第二探測裝置、第一和第二轉(zhuǎn)換裝置、對數(shù)處理裝置、影像產(chǎn)生裝置和影像處理裝置。它主要用于對旅客行李檢查、郵政檢查、海關(guān)檢查、工業(yè)無損檢查和廢品回收中,能夠?qū)崟r(shí)地對各種材料進(jìn)行影像分離。
聲明:
“X射線(或 γ射線)無損檢查系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)