提供了一種用于為布置在物體(12)中的基底(16)上的絕緣涂層(14)確定厚度和熱導(dǎo)率的裝置(10)。該裝置包括用于對(duì)物體(12)的表面快速施加多個(gè)光脈沖(24)的光源(20),其中該表面包括絕緣涂層(14)。該系統(tǒng)還包括記錄系統(tǒng)(28),該記錄系統(tǒng)(28)被配置成收集表示多個(gè)光脈沖在物體(12)中的傳播的數(shù)據(jù)(36)。該裝置還包括處理器(34),該處理器(34)被耦合到記錄系統(tǒng)(28),并且被配置成接收來(lái)自記錄系統(tǒng)(28)的數(shù)據(jù)(36),以及被配置成確定絕緣涂層(14)的厚度值和熱導(dǎo)率值。
聲明:
“用于無(wú)損測(cè)定絕緣涂層的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)