本發(fā)明公開(kāi)了一種雙層雙D型線圈及基于線圈的金屬構(gòu)件缺陷方向檢測(cè)方法和裝置,線圈包括互相平行的上層線圈和下層線圈,上層線圈和下層線圈的形狀都為雙D型;上層線圈和下層線圈的最外層半徑、線圈匝數(shù)和線間距均相等,兩個(gè)線圈所在平面之間的距離即上下兩層線圈之間的距離。檢測(cè)裝置包括激勵(lì)信號(hào)發(fā)生模塊、雙層雙D型線圈探頭、被測(cè)試件、信號(hào)放大濾波模塊、數(shù)據(jù)采集和處理模塊和缺陷方向定量檢測(cè)模塊。本發(fā)明提出了一種雙層雙D型線圈結(jié)構(gòu),并基于該結(jié)構(gòu)提出一種金屬構(gòu)件中缺陷方向的定量檢測(cè)方法與裝置,可實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬構(gòu)件中缺陷方向的定量無(wú)損檢測(cè),為實(shí)現(xiàn)缺陷深度和寬度的定量無(wú)損檢測(cè)奠定基礎(chǔ),提高脈沖渦流定量檢測(cè)金屬構(gòu)件缺陷的精度。
聲明:
“雙層雙D型線圈及基于線圈的缺陷方向檢測(cè)方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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