本發(fā)明公開(kāi)了一種微波階躍熱成像檢測(cè)和層析成像方法及系統(tǒng)。系統(tǒng)由控制模塊、微波產(chǎn)生裝置、熱像儀、計(jì)算機(jī)及多個(gè)算法模塊等組成。采用微波對(duì)被檢對(duì)象進(jìn)行加熱，采用熱像儀記錄被檢對(duì)象表面的瞬態(tài)溫度信號(hào)。求出瞬態(tài)溫度信號(hào)的二階導(dǎo)數(shù)，提取峰值時(shí)間作為特征值；把無(wú)缺陷區(qū)域的瞬態(tài)溫度信號(hào)作為參考信號(hào)，把被檢區(qū)域的瞬態(tài)溫度信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行差分得到瞬態(tài)差分信號(hào)，提取分離時(shí)間和最大值時(shí)間作為特征值；采用特征值進(jìn)行成像，判斷是否存在缺陷；通過(guò)理論分析與試驗(yàn)，建立特征值與深度的定量關(guān)系，對(duì)未知缺陷的深度進(jìn)行定量；利用不同時(shí)間范圍的溫度上升率，實(shí)現(xiàn)不同深度范圍的層析成像。該發(fā)明可應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)、醫(yī)學(xué)成像和目標(biāo)探測(cè)等領(lǐng)域。