本發(fā)明公開一種兩腳磁性探頭的殘余奧氏體分層測(cè)量系統(tǒng),兩腳磁性探頭的殘余奧氏體分層測(cè)量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了殘余奧氏體含量的分層測(cè)量,測(cè)試精度高,測(cè)量難度低,檢測(cè)周期短,測(cè)試方法簡(jiǎn)便、靈活,能達(dá)到被測(cè)鐵磁性材料物體的任何部位,更能夠進(jìn)行材料的無(wú)損測(cè)量。
聲明:
“兩腳磁性探頭的殘余奧氏體含量分層檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)