本發(fā)明公開一種針對高深寬比曲面構(gòu)件面形測量的測量系統(tǒng),其包括雙探頭測量機(jī)構(gòu)、探頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)、構(gòu)件移動機(jī)構(gòu),雙探頭測量機(jī)構(gòu)包括激光干涉光針及掃描觸針,兩者探頭間隔設(shè)置,并依次對曲面構(gòu)件進(jìn)行掃描;探頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)驅(qū)動雙探頭測量機(jī)構(gòu)對曲面構(gòu)件進(jìn)行隨形掃描;構(gòu)件移動機(jī)構(gòu)帶動曲面構(gòu)件作回轉(zhuǎn)運(yùn)動。本發(fā)明還公開了基于上述測量系統(tǒng)的測量方法,其綜合激光干涉光針在曲面輪廓、無損檢測方面的優(yōu)勢以及高長徑比掃描觸針對大曲率、小間隙結(jié)構(gòu)的檢測優(yōu)勢,并優(yōu)化其測量方法,實(shí)現(xiàn)了復(fù)雜高深寬比曲面構(gòu)件跨尺度特征的全表面檢測。
聲明:
“針對高深寬比曲面構(gòu)件面形測量的測量系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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