本發(fā)明公開了一種基于光學(xué)奇異點設(shè)計的多層膜光探測器及其探測方法。該探測器包括襯底和襯底上的多層膜,襯底為通訊波段透明的光學(xué)材料;多層膜具有光學(xué)奇異點,由無損耗光學(xué)材料和有損耗光學(xué)
半導(dǎo)體材料交替排列組成一維周期性陣列,以四層膜為一個結(jié)構(gòu)單元。根據(jù)光在多層膜中傳輸?shù)奶匦跃仃嚲_調(diào)控材料的實部折射率、虛部折射率、膜厚,使得探測器結(jié)構(gòu)在特定波長出現(xiàn)一側(cè)反射率不為零,另一側(cè)反射率理論為零的單向無反射現(xiàn)象。當外加光源入射到探測器上時,半導(dǎo)體材料由于光電效應(yīng)引起自身折射率發(fā)生變化,使無反射的一端出現(xiàn)反射,即達到了探測外加光源的目的。本發(fā)明具有探測技術(shù)新穎直觀,靈敏度高且穩(wěn)定性好,所需檢測設(shè)備成本低等優(yōu)點。
聲明:
“基于光學(xué)奇異點設(shè)計的多層膜光探測器及其探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)