本發(fā)明公開(kāi)了一種透視測(cè)量樹(shù)脂基
復(fù)合材料構(gòu)件內(nèi)部離面位移場(chǎng)分布的裝置及方法。該裝置是設(shè)計(jì)邁克爾遜多表面干涉的光學(xué)系統(tǒng),在參考臂端引入一個(gè)雙表面光楔,形成光楔和被測(cè)樹(shù)脂基復(fù)合材料內(nèi)部反射信號(hào)之間的干涉圖像。光楔有兩個(gè)作用,首先用于監(jiān)測(cè)激光波數(shù)k,其次提供干涉的參考平面。通過(guò)溫度掃描,半導(dǎo)體激光控制器輸出激光的波數(shù)也進(jìn)行掃描,與此同時(shí),CCD相機(jī)拍攝多幀干涉圖像。分別對(duì)加載前后干涉圖像序列進(jìn)行傅里葉變換,干涉峰值對(duì)應(yīng)的相位差可以解調(diào)出被測(cè)樹(shù)脂基復(fù)合材料構(gòu)件內(nèi)部離面位移場(chǎng)分布。該裝置及方法的優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行透視測(cè)量,且離面位移場(chǎng)測(cè)量精度高,為樹(shù)脂基復(fù)合材料內(nèi)部力學(xué)性能測(cè)量和無(wú)損檢測(cè)提供了一種新的技術(shù)平臺(tái)。
聲明:
“透視測(cè)量樹(shù)脂基復(fù)合材料內(nèi)部離面位移場(chǎng)分布的裝置及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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