本發(fā)明公開了一種利用太赫茲波測(cè)量熱障涂層陶瓷層厚度的方法,利用反射式太赫茲時(shí)域光譜裝置獲取垂直入射信號(hào)和從樣品表面反射的太赫茲信號(hào);分別獲取入射信號(hào)與樣品反射信號(hào)的峰值并計(jì)算入射波與反射波的能量比;借助于波阻抗計(jì)算物質(zhì)的折射率;從樣品反射信號(hào)中提取前兩個(gè)峰的延遲時(shí)間,進(jìn)而計(jì)算出陶瓷層厚度。本發(fā)明提出的方法無需制作標(biāo)準(zhǔn)試件和建立復(fù)雜的理論模型,能夠?yàn)闊嵴贤繉犹沾蓪拥暮穸忍峁┮环N操作簡(jiǎn)單、快速、無損的檢測(cè)方式。
聲明:
“基于太赫茲技術(shù)的熱障涂層陶瓷層厚度測(cè)量新方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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