本實用新型公開了一種背光模組發(fā)光面吸附檢查設(shè)備,包括:上治具,與上治具扣合的下治具,其特征在于:下治具的內(nèi)側(cè)圓周設(shè)置有側(cè)邊吸氣孔,上治具與下治具扣合后,下治具的側(cè)邊吸氣孔與上治具的側(cè)邊吸氣孔相對應(yīng),檢查時背光模組置于上治具和下治具之間,用抽氣裝置從真空吸氣口及側(cè)邊吸氣孔吸氣,即利用背光模組的保護膜同治具貼合密封將其內(nèi)部空氣抽出,點燈狀態(tài)下即可清晰的檢查出發(fā)光面的不良問題,該檢查設(shè)備不使用其它治具接觸背光模組,檢查過程無損傷,避免了因檢查導(dǎo)致?lián)p傷進而致使發(fā)光面不良的現(xiàn)象,該檢查設(shè)備較滾輪壓檢可靠,而且效率高,吸附壓檢2-3秒即可完成檢查,并且發(fā)光面檢出率達100%。
聲明:
“背光模組發(fā)光面吸附檢查設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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