本發(fā)明屬于元素
分析檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種快速測定痕量輕元素上照式X射線能譜分析儀及分析方法。分析儀包括機(jī)柜(101)、電腦(102)、樣品腔室(303)、X射線光管(301)、探測器(302)、樣品杯(305)、高壓電源(306)、升降平臺(201)和
真空泵;分析方法為:將表面光潔待測樣品(501)裝入樣品杯(305)中,通過電腦(102)控制升降平臺(201)將樣品杯(305)向上升起,進(jìn)入樣品腔室(303)內(nèi)的檢測位置并采用無油真空泵快速抽真空,可同時(shí)測定痕量多個(gè)輕元素;檢出限可低至1ppm。本發(fā)明能夠極大降低空氣對輕元素特征譜峰的吸收,降低檢出限;整個(gè)測試無耗材,具有操作簡單、無損快速、精確定量、低成本等特點(diǎn)。
聲明:
“快速測定痕量輕元素上照式X射線能譜分析儀及分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)