本申請(qǐng)涉及利用近紅外光來(lái)測(cè)試或分析材料技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種巖石遇水強(qiáng)度軟化的光譜學(xué)測(cè)量方法及系統(tǒng),該方法包括:對(duì)制備的砂巖試樣進(jìn)行室內(nèi)近紅外光譜采集和單軸抗壓強(qiáng)度實(shí)驗(yàn),獲得不同含水量巖石試樣的近紅外光譜數(shù)據(jù)和單軸抗壓強(qiáng)度數(shù)據(jù);分析巖石強(qiáng)度與近紅外光譜特征譜段的峰高、峰面積之間的相關(guān)性,建立巖石強(qiáng)度與近紅外光譜學(xué)特征間的關(guān)系;對(duì)得到的近紅外光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行建模樣本篩選和數(shù)據(jù)增強(qiáng),利用長(zhǎng)短期記憶全卷積網(wǎng)絡(luò)建立巖石遇水強(qiáng)度的預(yù)測(cè)模型。如此,從光譜學(xué)角度,建立軟巖遇水軟化機(jī)理的直接解釋方法,提供一種非破壞性的檢測(cè)巖石強(qiáng)度方法,能夠?qū)崿F(xiàn)無(wú)損、實(shí)時(shí)、100%覆蓋,可用于現(xiàn)場(chǎng)巖石遇水強(qiáng)度的測(cè)量。
聲明:
“巖石遇水強(qiáng)度軟化的光譜學(xué)測(cè)量方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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