本實用新型公開了一種便于IC卡失效分析的測試板,包括芯條、測試板本體和背板,所述測試板本體的上表面開設(shè)有通槽,且測試板本體的上表面開設(shè)有安裝孔,所述安裝孔共設(shè)有四十八個,且四十八個安裝孔每二十四個為一組,每組安裝孔關(guān)于測試板本體的上表面等距分布,所述芯條焊接在測試板本體的上表面位于通槽的一側(cè)外端面,所述芯條共設(shè)有四個,且四個芯條關(guān)于通槽的上表面呈矩形陣列分布,所述背板焊接在測試板本體的后表面,所述背板采用玻璃制成,且背板采用透明設(shè)計。本實用新型便于失效分析,節(jié)省大量時間。
聲明:
“便于IC卡失效分析的測試板” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)