一種電子設(shè)備失效分析方法及系統(tǒng)，用于對(duì)電子設(shè)備的功能失效原因進(jìn)行分析，所述方法包括：建立總數(shù)據(jù)庫(kù)，所述總數(shù)據(jù)庫(kù)包括第一數(shù)據(jù)庫(kù)，所述第一數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)存儲(chǔ)待分析電子設(shè)備的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)包括待分析電子設(shè)備編號(hào)、測(cè)試名稱(chēng)、測(cè)試指令、測(cè)試相關(guān)的器件以及測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的失效記錄；圖像化顯示步驟，根據(jù)失效記錄對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)圖像化與所述失效現(xiàn)象相關(guān)的器件，生成并顯示對(duì)應(yīng)的第一圖片，所述第一圖片包括相關(guān)的器件以及所述相關(guān)的器件之間的信號(hào)收發(fā)狀況；以及失效原因檢查步驟，判斷待分析電子設(shè)備的失效原因，并根據(jù)所述失效原因顯示第一圖片中造成所述失效現(xiàn)象的器件。