本發(fā)明提供一種
芯片失效的數(shù)據(jù)分類分析方法及其裝置,其方法為:確定芯片尺寸和類型;確定芯片失效模式;對芯片進行掃描,將芯片中失效位的信息作為原始數(shù)據(jù),存儲在數(shù)據(jù)庫中;將原始數(shù)據(jù)格式轉換成統(tǒng)一的標準數(shù)據(jù)格式;對所述標準數(shù)據(jù)進行分析并分類;顯示分類結果。與現(xiàn)有的技術相比,本發(fā)明提供的芯片失效的數(shù)據(jù)分類分析方法及其裝置通過確定芯片尺寸和類型;確定芯片失效模式,然后采用一維聚類算法分別將橫向和縱向的失效位統(tǒng)計出來,再將其合并,從而大大減少統(tǒng)計的運算量,提高系統(tǒng)的性能,從而能應用于分析具有大容量的存儲產(chǎn)品。
聲明:
“芯片失效的數(shù)據(jù)分類分析方法及其裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)