本發(fā)明涉及SSD失效分析方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì),該方法包括當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時,獲取SSD全盤信息;根據(jù)SSD全盤信息構(gòu)建失效場景,并對失效場景進(jìn)行分析,以得到分析結(jié)果;發(fā)送所述失效結(jié)果至終端,以在終端顯示所述失效結(jié)果。本發(fā)明通過在SSD出現(xiàn)失效時,導(dǎo)出SSD全盤信息,并根據(jù)SSD全盤信息重建失效場景并在本地進(jìn)行分析,以此形成分析結(jié)果,且導(dǎo)出SSD全盤信息可以無限次重建失效場景,能永久保存失效場景,也極大便利了失效分析及問題解決后的驗證,實現(xiàn)多種場景的失效分析,提升分析的成功率和準(zhǔn)確率。
聲明:
“SSD失效分析方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)