本申請(qǐng)涉及一種失效分析方法、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。失效分析方法包括:獲取目標(biāo)
芯片顆粒內(nèi)的各IO通道的失效數(shù)據(jù),目標(biāo)芯片顆粒包括m個(gè)物理模塊,各物理模塊包括若干IO通道,m為大于等于2正整數(shù);將失效數(shù)據(jù)進(jìn)行拆分,形成對(duì)應(yīng)各物理模塊的m組模塊失效數(shù)據(jù);根據(jù)各模塊失效數(shù)據(jù),判定各物理模塊的局部失效類(lèi)型;根據(jù)各物理模塊的局部失效類(lèi)型,判定目標(biāo)芯片顆粒的存儲(chǔ)失效類(lèi)型。本申請(qǐng)能夠有效提高失效分析效率。
聲明:
“失效分析方法、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)