本發(fā)明揭示了一種比特失效檢測(cè)方法。該方法包括:提供一參考電流及一邊界系數(shù),將待測(cè)比特的電流跟參考電流與邊界系數(shù)的乘積作比較,若所述待測(cè)比特的電流大于參考電流與邊界系數(shù)的乘積,則所述比特判定為失效;其中,所述邊界系數(shù)大于等于1。本方法能夠提高對(duì)異常比特的檢測(cè)效果,從而提高產(chǎn)品性能。
聲明:
“比特失效檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)